Parece que JavaScript está deshabilitado en su navegador. Si no inicia sesión, algunas funciones en esta página no funcionarán.

¿Vé algún error?

RD33774ADSTEVB

Las imágenes son para referencia solamente
Ver especificaciones del producto

Mouser N.º:

771-RD33774ADSTEVB

Fabricante N.º:

RD33774ADSTEVB

Fabricante:

NXP Semiconductors

Descripción:

Herramientas de desarrollo de administración de IC RD33774ADSTEVB

Ciclo de vida:

Pedido especial de fábrica:

Obtenga una cotización para verificar el precio actual, plazo de entrega y requisitos para realizar pedidos del fabricante.

Hoja de datos:

RD33774ADSTEVB Hoja de datos (PDF)

Más información

Conozca más sobre NXP Semiconductors RD33774ADSTEVB

Disponibilidad

Existencias:: No disponible

Se ha producido un error inesperado. Vuelva a intentarlo más tarde.

Precio (USD)

Solicitar presupuesto

.hidden-for-nojs { display: none; } .pull-right-nojs { justify-content: flex-end; }

Atributo del producto	Valor de atributo	Seleccionar atributo
Fabricante:	NXP
Categoría de producto:	Herramientas de desarrollo de administración de IC
Producto:	Evaluation Boards
Tipo:	Battery Management
La Herramienta es para la Evaluación de :	MC33774A
Marca:	NXP Semiconductors
Tipo de interfaz:	I2C, SPI
Tipo de producto:	Power Management IC Development Tools
Cantidad de empaque de fábrica:	1
Subcategoría:	Development Tools
Alias de las piezas n.º:	935429581598

Productos encontrados:

Para mostrar productos similares, seleccione al menos una casilla de verificación

Seleccione al menos una de las casillas de verificación anteriores para mostrar productos similares en esta categoría.

Atributos seleccionados: 0

Filtrar documento:

Hoja de datos

RD33774ADSTEVB Hoja de datos (PDF)

USHTS:: 8473301180
TARIC:: 8473302000

Placa de evaluación RD33774ADSTEVB

La placa de evaluación RD33774ADSTEVB de NXP Semiconductors es un diseño de referencia de unidad de monitoreo de celdas (CMU) distribuidas con un enlace de protocolo de transporte eléctrico (ETPL). Esta placa de evaluación contiene un circuito integrado (CI) de controladores de celdas de batería MC33774A en una cadena en serie. La placa de evaluación RD33774ADSTEVB incorpora dispositivos con sistema en paquete que utilizan tecnología de alto volumen. Esta placa de evaluación admite un amplio rango de soluciones analógicas, de señal mixta y de potencia. La placa de evaluación RD33774ADSTEVB realiza conversión de señal analógica a digital en los voltajes y corrientes de celdas diferenciales.