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TPS2592ALDRCR

Name: Texas Instruments TPS2592ALDRCR
Brand: Texas Instruments
SKU: 595-TPS2592ALDRCR
Price: 1.34 USD
Availability: Discontinued

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Mouser N.º:

595-TPS2592ALDRCR

Fabricante N.º:

TPS2592ALDRCR

Fabricante:

Texas Instruments

Descripción:

Controladores de voltaje intercambiables en caliente 12V eFuse w/ Intg Bl ocking FET Driver A A 595-TPS259240DRCR

Ciclo de vida:

NRND:

No recomendado para nuevos diseños.

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Controladores de voltaje intercambiables en caliente 4.5-V to 13.8-V 28m ohm 1-5A eFuse with A 595-TPS259240DRCT

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Atributo del producto	Valor de atributo	Seleccionar atributo
Fabricante:	Texas Instruments
Categoría de producto:	Controladores de voltaje intercambiables en caliente
RoHS:
Límite de corriente:	2 A to 5 A
Voltaje de alimentación - Máx.:	13.8 V
Voltaje de alimentación - Mín.:	4.5 V
Número de canales:	1 Channel
Temperatura de trabajo mínima:	- 40 C
Temperatura de trabajo máxima:	+ 125 C
Estilo de montaje:	SMD/SMT
Paquete / Cubierta:	VSON-10
Empaquetado:	Reel
Marca:	Texas Instruments
País de ensamblaje:	Not Available
País de difusión:	Not Available
País de origen:	PH
Tensión de entrada / alimentación - Máx.:	13.8 V
Tensión de entrada / alimentación - Mín.:	4.5 V
Tipo de producto:	Hot Swap Voltage Controllers
Serie:	TPS2592AL
Cantidad de empaque de fábrica:	3000
Subcategoría:	PMIC - Power Management ICs
Peso de la unidad:	39.300 mg

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CNHTS:: 8542399000
CAHTS:: 8542390000
USHTS:: 8542390090
JPHTS:: 854239099
TARIC:: 8542399000
MXHTS:: 8542399901
ECCN:: EAR99

LM5060 High-Side Protection Controllers

Texas Instruments LM5060 High-Side Protection Controllers with Low Quiescent Current offers intelligent control of a high-side N-channel MOSFET during normal on/off transitions and fault conditions. The constant rise time of the output voltage results from the inrush current control. Both an Input UVLO (with hysteresis) and a programmable input OVP are provided, with an enable input offering a remote on or off control. The initial start-up V_GS fault detection delay time, the transition V_DS fault detection delay time, and the continuous over-current V_DS fault detection delay time is programmed from a single capacitor. The MOSFET is latched off until either the enable input, or the UVLO input is toggled low and then high when a detected fault condition persists longer than the allowed fault delay time.